GD-Profiler 2™

O GD-Profiler 2™ da HORIBA é um espectrômetro de emissão óptica (RF-GDOES) projetado para análises rápidas e precisas de ligas e materiais, abrangendo desde camadas finas a estruturas espessas. Utilizando um gerador de radiofrequência pulsado, oferece perfis de profundidade com resolução nanométrica e velocidades de sputtering de até 10 nm/s.Com uma cobertura espectral de 110 a 800 nm, realiza análises simultâneas de até 47 elementos com alta sensibilidade. O equipamento inclui um interferômetro para medição online da profundidade de cratera e permite a adição modular de um monocromador.O software QUANTUM™ proporciona controle completo da aquisição e calibração, tornando o GD-Profiler 2™ ideal para pesquisa e controle de qualidade em setores como semicondutores e ligas metálicas, oferecendo uma solução analítica ágil e confiável.

Informações
  • Perfil de profundidade de filmes finos e multicamadas
  • Análise de impurezas em metais de alta pureza
  • Caracterização de superfícies tratadas
  • Monitoramento de processos de deposição e corrosão
  • Análise de materiais orgânicos e polímeros
  • Controle de qualidade em produção de semicondutores e displays
  • Estudo de difusão de elementos químicos
  • Investigação de falhas em adesão ou delaminação
  • Análise de ligas metálicas complexas
  • Pesquisa em ciência dos materiais e desenvolvimento de novos materiais
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